Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Gesponsert
187.98 EUR
Preis aktualisiert am: 25-09-2026 18:35:03
Gesponsert
213.99 EUR
Preis aktualisiert am: 23-09-2026 05:35:56
Gesponsert
219.99 EUR
Preis aktualisiert am: 26-09-2026 00:16:48

Allgemein

Marke
Springer US
ISBN
Springer US 0387465464
MPN
Springer US 5860717

Eigenschaften

Menü