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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Ein praxisnahes Lehrbuch, das die Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie mit fortgeschrittener Röntgenanalyse verknüpft und Techniken zur präzisen M ...
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117.69 EUR
Preis aktualisiert am: 14-10-2026 10:54:59
Allgemein
Marke
Springer, Berlin; Springer New York; Springer
ISBN
Springer, Berlin; Springer New York; Springer 149396674X
MPN
Springer, Berlin; Springer New York; Springer 45574248
