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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Ein kompakter Überblick über die physikalischen Grundlagen der Elektronenmikroskopie, der TEM, SEM und AEM systematisch erläutert, ihre Bildgebungs ...
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Allgemein
Marke
R.F. Egerton
ISBN
R.F. Egerton 3319819860
