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Bailich, Mohammed: Analyse multi-échelle par ondelettes pour la reconstruction de forme
Dieses Fachbuch untersucht die Multiskalen-Wellenlet‑Analyse zur Formrekonstruktion, präsentiert ein optisches Profilometer mit strukturiertem Lich ...
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averdo DE
51.06 EUR
Preis aktualisiert am: 08-11-2024 05:53:16
Allgemein
ISBN
3330852453