Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics) (Springer Tracts in Modern Physics, 209, Band 209)
Ein wissenschaftliches Buch, das die Anwendung der Infrarot‑Ellipsometrie auf Halbleiterschichten untersucht, Phononen, Plasmons und Polaritonen b ...
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Allgemein
Marke
Springer Berlin Heidelberg
ISBN
Springer Berlin Heidelberg 3642062288
MPN
Springer Berlin Heidelberg 77 black & white illustrations
