Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13–19, 1983 (Springer Series in Chemical Physics, 36, Band 36)
Ein kompakter Sammelband aus Osaka 1983, der die neuesten Fortschritte in der Sekundärions-Massenspektrometrie dokumentiert; enthält Vorträge, Erge ...