Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing: Reduction of Dynamic and Leakage Power during Testing of Digital VLSI Circuits
Ein technisches Handbuch, das fortgeschrittene Ansätze zur Reduktion von dynamischer und Leckageleistung in VLSI-Testschaltungen präsentiert, mit pr ...
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Galaxus.de
49.00 EUR
Preis aktualisiert am: 09-05-2026 11:58:02
Allgemein
Marke
Subhadip Kundu
ISBN
Subhadip Kundu 3659255203
