RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range (Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik)

Dieses Buch untersucht, wie RF‑Proben Fehler in On‑Wafer‑Messungen des Millimeterwellenbereichs erzeugen, erklärt die physikalischen Hintergrü ...

Allgemein

Marke
Daniel Müller
ISBN
Daniel Müller 3731508222

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