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RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range (Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik)
Dieses Buch untersucht, wie RF‑Proben Fehler in On‑Wafer‑Messungen des Millimeterwellenbereichs erzeugen, erklärt die physikalischen Hintergrü ...
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Allgemein
Marke
Daniel Müller
ISBN
Daniel Müller 3731508222
