Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001)

Aufbau und Charakterisierung
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Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001)
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Preis aktualisiert am: 11-04-2026 13:17:37
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Cuvillier Verlag
ISBN
Cuvillier Verlag 3736990200

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