Chemische Charakterisierung von Bor- und Siliziumcarbonitridschichten: Bestimmung der chemischen Bindungen mittels TXRF-NEXAFS und XPS
Ein umfassendes Handbuch für die Analyse von Bor‑ und Siliziumcarbonitrid‑Schichten, das TXRF, NEXAFS und XPS nutzt, um Bindungsarten zu bestimme ...
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69.90 EUR
Preis aktualisiert am: 12-06-2026 02:09:06
Allgemein
Marke
Suedwestdeutscher Verlag fuer Hochschulschriften
ISBN
Suedwestdeutscher Verlag fuer Hochschulschriften 3838115333
