Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien

Erforscht die hochpräzise, kontaktfreie Messung von Halbleitern mittels Mikrowellenphotoleitfähigkeit; erläutert mathematische Modelle zur Quantifi ...
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ISBN
Sudwestdeutscher Verlag Fur Hochschulschriften AG 3838124405

Eigenschaften

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