Etude aux interfaces des couches minces Cu/Au/Si et Pd/Au/Si: Elaboration et Techniques de caractérisations des couches minces des systèmes ternaires Cu/Au/Si et Pd/Au/Si
Das Werk untersucht die Grenzflächen von Cu/Au/Si‑ und Pd/Au/Si‑Schichten, beschreibt innovative Aufbautechniken und führt moderne Analyseverfah ...