Etude aux interfaces des couches minces Cu/Au/Si et Pd/Au/Si: Elaboration et Techniques de caractérisations des couches minces des systèmes ternaires Cu/Au/Si et Pd/Au/Si

Das Werk untersucht die Grenzflächen von Cu/Au/Si‑ und Pd/Au/Si‑Schichten, beschreibt innovative Aufbautechniken und führt moderne Analyseverfah ...
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71.90 EUR
Preis aktualisiert am: 12-06-2026 22:09:43

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ISBN
9783838147727

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