La fiabilité des composants RF de puissance: Étude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hyperfréquences (Omn.Univ.Europ.)

Dieses Werk untersucht die Lebensdauer von RF‑LDMOS‑Transistoren im Pulsbetrieb, erklärt Ausfallmechanismen und liefert praxisorientierte Strateg ...
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La fiabilité des composants RF de puissance, Fachbücher
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Mohamed Gares
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Mohamed Gares 3841794963

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