Sistema de medición AM-AM y AM-PM para transistores en RF y microondas: Desarrollo de un método simple y preciso para caracterizar transistores y ... de potencia en altas frecuencias
Ein kompakter Leitfaden für RF‑Ingenieure, der einen leicht umsetzbaren Messansatz für AM‑AM‑ und AM‑PM‑Verzerrungen in Hochfrequenz‑Tra ...