Varela Della Giustina, Rafael: Estudo e simulação de ruído em transistores

Ein wissenschaftlicher Leitfaden, der die Rolle von Random Telegraph Signal‑Rauschen und thermischem Rauschen in MOS‑Transistoren untersucht, komb ...
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Estudo e simulação de ruído em transistores, Fachbücher
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9786130153908

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