Conduction par pièges dans les films minces de dioxyde de silicium: Étapes de développement d'un modèle de conduction assisté par pièges, Techniques ... associées et Étude des courants de fuites

Ein Fachbuch, das die Rolle von Defekten in dünnen Siliciumdioxidschichten untersucht, experimentelle Messverfahren für Leckströme beschreibt und e ...

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6131513805

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