Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]

Où acheter (1) Caractéristiques
Sponsorisé
Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]
Fnac FR
258.54 EUR
Prix mis à jour le: 07-10-2026 17:57:52
Voir l'offre

Général

Marque
Springer-Verlag GmbH
MPN
Springer-Verlag GmbH 31345890
ISBN
Springer-Verlag GmbH 3319756869

Caractéristiques

Produits similaires

Microscope Numérique USB 500x Media-Tech MT4096
Microscope Numérique USB 500x Media-Tech MT4096
Dès20.99 EUR 4
Voir produit
Microphone à clipser compact avec longueur de câble de 2 mètres et prise 3,5 mm pour ordinateur/smartphone/tablette (noir)
Microphone à clipser compact avec longueur de câble de 2 mètres et prise 3,5 mm pour ordinateur/smartphone/tablette (noir)
Dès12.00 EUR 5
Voir produit
Set dexperimentation Bresser Optik 8859490
Set dexperimentation Bresser Optik 8859490
Dès21.19 EUR 3
Voir produit
Lot de 50 lames de microscope Bresser 5916100 – verres Boro 3,3
Lot de 50 lames de microscope Bresser 5916100 – verres Boro 3,3
Dès14.35 EUR 1
Voir produit
Microphone à clipser compact avec longueur de câble de 2 mètres et prise 3,5 mm pour ordinateur/smartphone/tablette (noir)
Microphone à clipser compact avec longueur de câble de 2 mètres et prise 3,5 mm pour ordinateur/smartphone/tablette (noir)
Dès13.00 EUR 1
Voir produit
Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant
Nanomecanique par microscopie a force atomique en mode contact vibrant
Dès72.27 EUR 1
Voir produit
Menu