Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]

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Prix mis à jour le: 22-08-2026 10:53:14
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Général

Marque
Springer-Verlag GmbH
MPN
Springer-Verlag GmbH 31345890
ISBN
Springer-Verlag GmbH 3319756869

Caractéristiques

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