Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
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Preis aktualisiert am: 11-05-2026 09:15:43
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Marke
Springer-Verlag GmbH
MPN
Springer-Verlag GmbH 13051608
ISBN
Springer-Verlag GmbH 9781441978165

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