Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
Ein wissenschaftliches Werk, das die atomare Zusammensetzung von Si₃N₄-Grenzflächen untersucht, indem es hochauflösende Bildgebung mit First‑P ...
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Allgemein
Marke
Springer New York
ISBN
Springer New York 1461428572
MPN
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