Single Event Upsets in Sub-65nm CMOS technologies: Monte-Carlo simulations and contribution to understanding of physical mechanisms

Erforscht die Ursachen von Einzelereignis‑Upsets in Sub‑65 nm CMOS, indem es Monte‑Carlo‑Simulationen mit experimentellen Daten verknüpft u ...

Allgemein

Marke
Slawosz Uznanski
ISBN
Slawosz Uznanski 3846595519

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