Fiabilité des Transistors Bipolaires à Hétérojonction sur substrat InP: Etude des mécanismes de dégradation des Transistors Bipolaires à ... InP destinés aux communications optiques

Dieses Werk analysiert die Lebensdauer von Heterojunction-Bipolartransistoren auf InP‑Substraten, beschreibt Degradationsmechanismen und liefert pra ...
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Fiabilité des Transistors Bipolaires à Hétérojonction sur substrat InP, Fachbücher
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6131513058

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